安捷倫科技此次活動討論內容包含高頻主/被動元件之真實模式量測、RF/uW天線之設計與量測、半導體先進製程中之參數量測、信號完整性測試等…同時亦邀請產、學界專家針對SiP內藏被動元件之RF特性分析與量測上進行經驗分享，會場並有多站實機展示。活動詳細內容，請至 www.agilent.com.tw/find/events查詢，座位有限，敬請把握機會，以免向隅。<?:namespace prefix = o ns = "urn:schemas-microsoft-com:office:office" />