這是NI線上測驗的其中兩題, 我不知道答案是什麼, 來討論一下吧
我選 A, B
我不知正確答案...
不過我的答案是C,B
我的答案是：
1. = C
2. = C
Array 對於 For Loop 會事先告知其大小。
而在 While Loop 則要一直等到迴圈結束時，才知道真正大小為何，
期間隨著迴圈的執行不斷在改變。
記得在 Help 中的 PDF 檔，好像有提到。
在 Error Cluster 中，Status 為「打勾選，其 Boolean 值為 false」
「打叉，其 Boolean 值為 True」，與一般我們所認知的相反。
Airbolt38313.8685069444
[QUOTE=Airbolt]
我的答案是：
1. = C
2. = C
Array 對於 For Loop 會事先告知其大小。
而在 While Loop 則要一直等到迴圈結束時，才知道真正大小為何，
期間隨著迴圈的執行不斷在改變。
記得在 Help 中的 PDF 檔，好像有提到。
在 Error Cluster 中，Status 為「打勾選，其 Boolean 值為 false」
「打叉，其 Boolean 值為 True」，與一般我們所認知的相反。
[/QUOTE]
根據Airbolt的答案, 那第一題是問兩種Loop的優點囉?
看來我有點會錯意
不過第二題為什麼是Warning,是否有例子可以看?
因為我不太清楚error的狀況, 所以不知道要怎麼怎個程式來驗證
對於第二題error的描述 是否僅限於LabVIEW本身原有函式的Error Out呢
我覺得關於error的定義 倒是可以很有彈性的 舉例來說 若自行撰寫一driver-level的subVI 其中主要是呼叫某DLL中的function用以查詢DUT硬體中的ID. 若傳回值1代表成功 傳回值0與DUT溝通無誤但指令代表失敗 傳回值-1代表與DUT溝通有問題 我的做法是會對傳回值以case structure加上bundle功能做出自行定義的error out 若在-1及0的case中 boolean當然為true, error code我就會直接用上-1和0 , message中就描述是何種錯誤 但若為傳回值為1的場合 Boolean為false, error code定義為1 為了節省接線數我乾脆把查詢到的DUT ID放進Error Cluster的string中 這樣跟第二題的前三項都不一樣了
但是這也不是很好的做法 除非真的有一整套的subVI要寫且都可以用這種方法達成 才不會產生混淆 程式說明文件也是得寫清楚才行
[QUOTE=阿k]
2004-11-23_094947_2049ch06.pdf
這份文件不錯....學校單位可下載e-book
[/QUOTE]
謝囉 等會好好來看一下
這是哪一份文件的ch6, 是否有完整的文件
有完整的文件....不過20幾MB
我是在學校圖書館的西文e-book資料庫裡抓的
看yao怎麼方便寄給你......
[QUOTE=阿k]
有完整的文件....不過20幾MB
我是在學校圖書館的西文e-book資料庫裡抓的
看yao怎麼方便寄給你......
[/QUOTE]
建議請站長開個FTP空間放這些有用的文件.
站上用功的人還真不少.
我選的答案也是b
不過我覺得題意不太完整, 到底是調Physical Quantity還是Sensor的Range
而且Scaling Formula是設定如何呢?
如果是No Scaling那答案b應該沒錯
如果是另外兩者 , 那就不是b了
my ans is "A".
應該可偵測到,但相對的解析度會降低...
順便一提,以前我是自己接分壓電路來提高DAQ的偵測電壓，若對準確度很要求者則可用OP或比較器來做，還有需注意DAQ卡input的保護線路也需一併考慮...。
如果選A的話 , 那D在這一題應該也對吧?
A＆D（好像某種品牌...）應該不一樣
A是-5V輸入可以偵測到-5V(但解析度降低，如-5.0001V降低為-5.01V)
D是-5V輸入但偵測到-2.5V
應該是這樣子吧！
[QUOTE=t122ab]我想請問各位以下題目的答案為何,因自己無DAQ card無法實驗, 請大家討論一下我是猜b[/QUOTE]
沒看到任何題目的陷阱,答案應該是C